西南大學(xué)單一來源采購(gòu)“增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)”征求意見公示

項(xiàng)目名稱

增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)

會(huì)議時(shí)間

2018年5月28日

會(huì)議地點(diǎn)

西南大學(xué)弘光壘實(shí)驗(yàn)室

預(yù)算金額

90萬(wàn)人民幣

經(jīng)費(fèi)來源

104290-20710702，104290-2120054036

專業(yè)人員

姓名

職稱

工作單位

楊曉明

教授

西南大學(xué)

付志峰

教授

西南大學(xué)

齊紅衣

教授

西南大學(xué)

項(xiàng)目說明

基于單納米顆粒的分析傳感技術(shù)是目前貴金屬納米顆粒光散射分析的主流，借助于暗場(chǎng)顯微鏡的低背景，使得單納米顆粒散射信號(hào)具有非常高的信噪比，大大提高了分析靈敏度，而且單納米顆粒散射光譜法具有非常高的光譜分辨率，可以在單顆粒水平實(shí)時(shí)追蹤反應(yīng)從而建立一系列光散射分析方法。

申購(gòu)單位現(xiàn)有高倍暗場(chǎng)聚光透鏡（U-DCW,1.2-1.4）的BX51光學(xué)顯微鏡（日本奧林巴斯）一臺(tái)進(jìn)行光學(xué)成像，為了獲得目標(biāo)物的散射光譜特性，擬購(gòu)增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)一臺(tái)對(duì)弱信號(hào)進(jìn)行增益放大，進(jìn)行快速成像成譜，也可以對(duì)樣品光譜強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試。

目前，此升級(jí)系統(tǒng)只有配置Princeton Instruments公司生產(chǎn)的增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)（生產(chǎn)國(guó)別：美國(guó)，制造廠家：Princeton Instruments，型號(hào)：IsoPlane SCT-320及PI-MAX4 1024i，品名：增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)(Enhanced Charge Coupled Detection System)，才能實(shí)現(xiàn)和顯微鏡的耦合。該儀器的購(gòu)置將有效提高我�？蒲泄ぷ髡咴诒碚鞅斫缑娣肿咏Y(jié)構(gòu)性質(zhì)，研究局域結(jié)構(gòu)信息和反應(yīng)過程等方面的研究水平，大大推動(dòng)單顆粒水平的發(fā)展，為發(fā)表高水平學(xué)術(shù)論文提供關(guān)鍵性實(shí)驗(yàn)支撐。

專業(yè)人員意見

申購(gòu)單位通過擬購(gòu)增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)與其現(xiàn)有的暗場(chǎng)顯微鏡進(jìn)行耦合，將暗場(chǎng)顯微成像系統(tǒng)升級(jí)為暗場(chǎng)成像光譜系統(tǒng)。經(jīng)調(diào)研發(fā)現(xiàn)：

1、該探測(cè)系統(tǒng)中使用的探測(cè)器，能夠?qū)Τ跣盘?hào)進(jìn)行增益放大，增益倍數(shù)可調(diào)。且其使用的光譜儀具有影像校正設(shè)計(jì)，在整個(gè)焦平面上沒有像散。次選及備選生產(chǎn)廠商光譜儀沒有影像校正設(shè)計(jì)且光通量還少，不利于信號(hào)收集，且光譜儀不能實(shí)現(xiàn)一鍵波長(zhǎng)及強(qiáng)度校準(zhǔn)。其他品牌探測(cè)器讀出速度慢，不能對(duì)弱光信號(hào)實(shí)行增益放大，無(wú)法探測(cè)弱光信號(hào)。

2、申購(gòu)單位現(xiàn)有的BX51光學(xué)顯微鏡（日本奧林巴斯）只有與Princeton Instruments公司生產(chǎn)的增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行耦合，從硬件耦合到軟件的相容性才能匹配，而和其它品牌的耦合無(wú)法滿足申購(gòu)單位的工作需要。

綜上所述，申購(gòu)單位現(xiàn)有的暗場(chǎng)顯微成像系統(tǒng)只有配置Princeton Instruments公司生產(chǎn)的增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng)（生產(chǎn)國(guó)別：美國(guó)，制造廠家：Princeton Instruments，型號(hào)：IsoPlane SCT-320及PI-MAX4 1024i，品名：增強(qiáng)型電荷耦合探測(cè)系統(tǒng) (Enhanced Charge Coupled Detection System)，才能實(shí)現(xiàn)和顯微鏡的耦合獲得可靠的光譜分析。因此只能采用單一來源方式采購(gòu)該設(shè)備。